苏州市德风芯半导体有限公司
TKP-V Series

平坦度量测设备 TKP-V Series
· 新型光学模块, 可对应减薄/解键/镀膜后大翘曲产品
· 对应手自动上下料、分拣系统
· 支援细部分析或快速全面检测

平坦度量测设备 TKP-V Series

新型光学模块, 可对应减薄/解键/镀膜后大翘曲产品。

对应手自动上下料、分拣系统。

支援细部分析或快速全面检测。

UniDRON-Semi技术


TKP-V Series  规格表

检测物尺寸

4/6 or 6/8  or 8/12 inch

 检测物材质

Si/SiC/GaAs/GaN/InP/Glass/Sapphire etc

检测范围

100~300mm

检测物翘曲度

>5mm, (25°)

外观尺寸

1350 × 1800 × 1900mm

量测功能

TTV, LTV, BOW, WARP, Thickness, Stress

除震系统

配动式除震系统,气囊式

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